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Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀

描述:Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀
DataRay的Beam'R2非常適合許多激光光束輪廓分析應(yīng)用。利用標(biāo)準(zhǔn)的2.5μm狹縫和較大的刀口狹縫,Beam'R2能夠測(cè)量直徑小至2μm的光束。利用Si和InGaAs或擴(kuò)展InGaAs的選件,Beam'R2可以對(duì)190 nm至2500 nm的光束進(jìn)行輪廓分析。掃描狹縫光斑分析儀提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)更高的分辨率
更新時(shí)間:2026-01-29
產(chǎn)品型號(hào):
所在城市:北京市
廠商性質(zhì):代理商
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